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试验探针的寿命一般由什么而决定呢？
更新时间：2021-08-11 点击次数：1700
人们最早采用探针技术与今天的工具是很不相同的，早期探针使用了由一个很短的线极尖而逐渐收敛的50-Ω微带线，通过探针基片上一个小孔而与被测器件的压点相接触。此时，其技术难度在于如何突破4GHz时实现可重复测量。虽然有可能通过校准过程来剔除一个接触线极尖相对较大的串联电感的影响，但当圆晶片的夹具被移动时，线极尖的辐射阻抗会有较大的变化。
试验探针在产品生命周期中几乎每一个阶段都起着重要作用：从技术开发，模型参数提取，设计验证及调试一直到小规模生产测试和最终的生产测试。通过使用探针，人们便有可能在晶片层次上测量射频组件的真正特性。这可以将研究和开发时间缩短并且大大降低开发新产品的成本。
试验探针的寿命往往都是由测试环境决定的，如果测试环境比较差，各种杂质进入探针内管，就会造成弹簧损坏，这样就必须要更换探针。这种是小部分更换，还有一种是定期对测试探针进行更换，当使用到一定的时间后，测试探针就必须要更换。如果是高频探针的话，这个比较特殊，高频探针主要在于高频针的内芯针，所以高频探针更换一般都是将内芯针进行更换，这样可大大降低成本。
使用者的不当使用，也可能造成试验探针因损坏而提前更换。例如，探针头部下压的深度（也就是头接触测试点时头部下压程度。有轻微接触，有头部下压三分二和下压到底部）、下压时的速度以及下压时候的力度，这些都会对探针的弹簧都有所耗损。每个顾客的设计以及使用方法不同，这些使用方法都是决定探针寿命的几个关键的因素。
